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Microstitching interferometry for x-ray reflective optics

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Yamauchi, K. Yamamura, K. Mimura, H. Sano, Y. Saito, A. Ueno, K. Endo, K. Souvorov, A. Yabashi, M. Tamasaku, K. Pág. 2894 - 2898

Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 74 Num: 5 Par: 0 Año: 2003

Fabrication of elliptical mirror at nanometer-level accuracy for hard x-ray focusing by numerically controlled plasma chemical vaporization machining

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Yamamura, K. Yamauchi, K. Mimura, H. Sano, Y. Saito, A. Endo, K. Souvorov, A. Yabashi, M. Tamasaku, K. Ishikawa, T. Pág. 4549 - 4553

Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 74 Num: 10 Par: 0 Año: 2003

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