Revistas
Artículos
Publicaciones
Documentos
AVANZADA
2
Artículos
Buscar Revistas
Calibrated nanoscale capacitance measurements using a scanning microwave microscope
Solicitud
usuarios registrados
H. P. Huber, M. Moertelmaier, T. M. Wallis, C. J. Chiang, M. Hochleitner, A. Imtiaz, Y. J. Oh, K. Schilcher, M. Dieudonne, J. Smoliner, P. Hinterdorfer, S. J. Rosner, H. Tanbakuchi, P. Kabos, and F. Kienberger
Revista:
REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS
Formato:
Impreso
Tabla de contenido:
Vol: 81 Num: 11 Par: 0 Año: 2010
Quantitative scanning near-field microwave microscopy for thin film dielectric constant measurement
Solicitud
usuarios registrados
A. Karbassi, D. Ruf, A. D. Bettermann, C. A. Paulson, Daniel W. van der Weide, H. Tanbakuchi, and R. Stancliff
Revista:
REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS
Formato:
Impreso
Tabla de contenido:
Vol: 79 Num: 9 Par: 0 Año: 2008
« Anterior
Página: 1 de 1
Siguiente »