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Contribution to size effect of yield strength from the stochastics of dislocation source lengths in finite samples

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Triplicane A. Parthasarathy, Satish I. Rao, Dennis M. Dimiduk, Michael D. Uchic and Dallas R. Tr Pág. 313 - 316

Revista: SCRIPTA MATERIALIA Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 56 Num: 4 Par: 0 Año: 2007

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