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G. J. Joy, J. F. Colinet, D. D. Landen     Pág. 65 - 71
Revista: MINING ENGINEERING    Formato: Impreso

 
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P. M. Celliers, D. J. Erskine, C. M. Sorce, D. G. Braun, O. L. Landen, and G. W. Collins    
Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS    Formato: Impreso

 
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Frederic Girard, Larry Suter, Otto Landen, Dave Munro, Sean Regan, and John Kline    
Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS    Formato: Impreso

 
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T. Döppner, P. Neumayer, F. Girard, N. L. Kugland, O. L. Landen, C. Niemann, and S. H. Glenzer    
Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS    Formato: Impreso

 
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R. Tommasini, A. MacPhee, D. Hey, T. Ma, C. Chen, N. Izumi, W. Unites, A. MacKinnon, S. P. Hatchett, B. A. Remington, H. S. Park, P. Springer, J. A. Koch, O. L. Landen, John Seely et al.    
Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS    Formato: Impreso

 
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E. L. Dewald, C. Thomas, J. Milovich, J. Edwards, C. Sorce, R. Kirkwood, D. Meeker, O. Jones, N. Izumi, and O. L. Landen    
Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS    Formato: Impreso

 
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R. E. Olson, D. G. Hicks, B. K. Spears, P. M. Celliers, J. P. Holder, O. L. Landen, M. Geissel, J. W. Kellogg, G. R. Bennett, A. D. Edens, B. W. Atherton, and R. J. Leeper    
Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS    Formato: Impreso

 
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J. A. Frenje, D. T. Casey, C. K. Li, J. R. Rygg, F. H. Séguin, R. D. Petrasso, V. Yu Glebov, D. D. Meyerhofer, T. C. Sangster, S. Hatchett, S. Haan, C. Cerjan, O. Landen, M. Moran, P. Song et al.    
Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS    Formato: Impreso

 
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Dante Manna; Victor H. Moll     Pág. 2023 - 2043
Revista: MATHEMATICS OF COMPUTATION    Formato: Impreso

 
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Zirath, H; Fager, C; Garcia, M; Sakalas, P; Landen, L; Alping, A     Pág. 2086 - 2092

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