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Determination of Trace Impurities in Graphite and Silicon Carbide by Total Reflection X-ray Fluorescence Spectrometry after Homogeneous Liquid¿Liquid Extraction

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Hitoshi Yamaguchi,Shinji Itoh,Shukuro Igarashi,Kunishige Naitoh and Ryosuke Hasegawa Pág. 779 - 782

Revista: ISIJ INTERNATIONAL Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 40 Num: 8 Par: 0 Año: 2000

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