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A novel method for preparing stoichiometric SnO2 thin films at low temperature

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S. G. Ansari, M. A. Dar, M. S. Dhage, Young Soon Kim, Z. A. Ansari, A. Al-Hajry, and Hyung-Shik Shin

Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 80 Num: 4 Par: 0 Año: 2009

THE OPERATIONAL RELIABILITY OF THE DISC OF PORCELAIN INSULATORS THE CONTACT NETWORK. PREDICTION RESIDUAL LIFETIME

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en línea

En Dar Kim,V. M. Taran,V. H. Sychenko Pág. 33 - 35

The method of estimation of reliability of porcelain insulators is described in the article.

Revista: Nauka ta Progres Transportu Formato: Electrónico

Tabla de contenido: Vol: 0 Num: 13 Par: 0 Año: 2006

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