2   Artículos

 
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Fan, Y-H; Madisetti, V K; Mersereau, R M     Pág. 61 - 64
Revista: IEEE SIGNAL PROCESSING LETTERS    Formato: Impreso

 
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Hezar, R; Madisetti, V K     Pág. 92 - 94
Revista: IEEE SIGNAL PROCESSING LETTERS    Formato: Impreso

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