2 Artículos

Ferrule-top atomic force microscope

Solicitud

usuarios registrados

D. Chavan, G. Gruca, S. de Man, M. Slaman, J. H. Rector, K. Heeck, and D. Iannuzzi

Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 81 Num: 12 Par: 0 Año: 2010

Fast imaging polarimeter for magneto-optical investigations

Solicitud

usuarios registrados

Wijngaarden, Rinke J.; Heeck, K.; Welling, M.; Limburg, R.; Pannetier, M.; Pág. 2661 - 2664

Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 72 Num: 6 Par: 0 Año: 2001

« Anterior Página: 1 de 1 Siguiente »