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A double lamellae dropoff etching procedure for tungsten tips attached to tuning fork atomic force microscopy/scanning tunneling microscopy sensors

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Kulawik, M. Nowicki, M. Thielsch, G. Cramer, L. Rust, H.-P. Freund, H.-J. Pearl, T. P. Weiss, P. S. Pág. 1027 - 1030

Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 74 Num: 2 Par: 0 Año: 2003

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