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High accuracy plasma density measurement using hybrid Langmuir probe and microwave interferometer method
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C. Deline, B. E. Gilchrist, C. Dobson, J. E. Jones, and D. G. Chavers
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REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS
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Vol: 78 Num: 11 Par: 0 Año: 2007
Four features used to deline RCM
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PLANT ENGINEERING
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Vol: 60 Num: 1 Par: 0 Año: 2006
Righting Software
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Larus, J. R. Ball, T. Das, M. DeLine, R. Fahndrich, M. Pincus, J. Rajamani, S. K. Venkatapathy, R.
Pág. 92 - 100
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IEEE SOFTWARE
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Vol: 21 Num: 3 Par: 0 Año: 2004
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