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J. Degrève, J. Baeyens, M. Van de Velden and S. De Laet
Pág. 188 - 195
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Smolders, K.; Baeyens, J.
Pág. 269 - 291
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Smolders, K.; Baeyens, J.
Pág. 240 - 244
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Baeyens Y. Dorschky C. Weimann N. Lee Q. Kopf R. Georgiou G. Mattia J.-P. Hamm R. Chen Y.-K.
Pág. 2403 - 2408
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Wu, S.Y.; Baeyens, J.
Pág. 296 - 296
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Wu, S.Y.; Baeyens, J.
Pág. 139 - 150
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Smolders, K; Baeyens, J
Pág. 35 - 46
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Wu, S Y; Su, M F; Baeyens, J
Pág. 283 - 290
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