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Bucur, A.I.D.; Epema, D.H.J.     Pág. 958 - 972

 
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Kalker, T. Epema, D. H. J. Hartel, P. H. Lagendijk, R. L. van Steen, M.     Pág. 961 - 970
Revista: PROCEEDINGS OF THE IEEE    Formato: Impreso

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