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Cantilevered bimorph-based scanner for high speed atomic force microscopy with large scanning range

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Yusheng Zhou, Guangyi Shang, Wei Cai, and Jun-en Yao

Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 81 Num: 5 Par: 0 Año: 2010

An alternative flat scanner and micropositioning method for scanning probe microscope

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Wei Cai, Guangyi Shang, Yusheng Zhou, Ping Xu, and Junen Yao

Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 81 Num: 12 Par: 0 Año: 2010

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