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Cao, Y. Sun, H. Trivedi, K. S. Han, J. J.     Pág. 193 - 198
Revista: IEEE TRANSACTIONS ON RELIABILITY    Formato: Impreso

 
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Zang, X; Sun, H; Trivedi, K     Pág. 50 - 60
Revista: IEEE TRANSACTIONS ON RELIABILITY    Formato: Impreso

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