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Atomic force microscopy imaging using a tip-on-chip: Opening the door to integrated near field nanotools

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J. Hayton, J. Polesel-Maris, R. Demadrille, M. Brun, F. Thoyer, C. Lubin, J. Cousty, and B. Grévin

Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 81 Num: 9 Par: 0 Año: 2010

CORRESPONDENCE - Nonlinear Filtering and Enhancement - Image Enhancement via Adaptive Unsharp Masking

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Polesel, A; Ramponi, G; Mathews, V J Pág. 505 - 509

Revista: IEEE TRANSACTIONS ON IMAGE PROCESSING Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 9 Num: 3 Par: 0 Año: 2000

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