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Versatile low-temperature atomic force microscope with in situ piezomotor controls, charge-coupled device vision, and tip-gated transport measurement capability

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Jhinhwan Lee, Jungseok Chae, Chung Koo Kim, Hyunjin Kim, Seungeun Oh, and Young Kuk Pág. -

Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 76 Num: 9 Par: 0 Año: 2005

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