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Determination of local refractive index variations in thin films by heterodyne interferometric scanning near-field optical microscopy
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Séverine Diziain, Jean-Marc Merolla, Michel Spajer, Giacomo Benvenuti, Ali Dabirian, Yury Kuzminykh, Patrik Hoffmann, and Maria-Pilar Bernal
Revista:
REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS
Formato:
Impreso
Tabla de contenido:
Vol: 80 Num: 9 Par: 0 Año: 2009
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