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Invited Paper - Time-Resolved Optical Characterization of Electrical Activity in Integrated Circuits

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Tsang, J C; Kash, J A; Vallett, D P Pág. 1440 - 1459

Revista: PROCEEDINGS OF THE IEEE Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 88 Num: 9 Par: 0 Año: 2000

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