5   Artículos

 
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Liu, X. Shekhar, S. Chawla, S.     Pág. 295 - 304

 
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Shekhar, S. Lu, C.-T. Chawla, S. Ravada, S.     Pág. 1400 - 1421

 
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Chen, Z. Duncan, S. Chawla, K. K. Koopman, M. Janowski, G. M.     Pág. 305 - 314
Revista: MATERIALS CHARACTERIZATION    Formato: Impreso

 
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Chawla, R; Baumel, S     Pág. 639 - 662
Revista: SOFTWARE, PRACTICE & EXPERIENCE    Formato: Impreso

 
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Shekhar, S; Chawla, S; Ravada, S; Fetterer, A; Liu, X; Lu, C-t     Pág. 45 - 55

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