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Enhanced On-Wafer Time-Domain Waveform Measurement Through Removal of Interconnect Dispersion and Measurement Instrument Jitter

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Scott, J. B. Verspecht, J. Behnia, B. Bossche, M. V. Cognata, A. Verbeyst, F. Thorn, M. L. Scherrer, D. R. Pág. 3022 - 3028

Revista: IEEE TRANSACTIONS ON MICROWAVE THEORY AND TECHNIQUES Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 50 Num: 12 Par: 0 Año: 2002

Linearity Characteristics of GaAs HBTs and the Influence of Collector Design

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Iwamoto M. Asbeck P. M. Low T. S. Hutchinson C. P. Scott J. B. Cognata A. Qin X. Camnitz L. H. D Avanzo D. C. Pág. 2377 - 2388

Revista: IEEE TRANSACTIONS ON MICROWAVE THEORY AND TECHNIQUES Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 48 Num: 12 Par: 0 Año: 2000

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