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R. Tommasini, A. MacPhee, D. Hey, T. Ma, C. Chen, N. Izumi, W. Unites, A. MacKinnon, S. P. Hatchett, B. A. Remington, H. S. Park, P. Springer, J. A. Koch, O. L. Landen, John Seely et al.    
Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS    Formato: Impreso

 
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Koch, J. A. Aglitskiy, Y. Brown, C. Cowan, T. Freeman, R. Hatchett, S. Holland, G. Key, M. MacKinnon, A. Seely, J.     Pág. 2130 - 2135
Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS    Formato: Impreso

 
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Hudson, L. T. Henins, A. Deslattes, R. D. Seely, J. F. Holland, G. E. Atkin, R. Marlin, L. Meyerhofer, D. D. Stoeckl, C.     Pág. 2270 - 2275
Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS    Formato: Impreso

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