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The effect of the dc bias voltage on the x-ray bremsstrahlung and beam intensities of medium and highly charged ions of argon
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G. Rodrigues, P. S. Lakshmy, R. Baskaran, D. Kanjilal, and A. Roy
Pág. 02A323
Revista:
REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS
Formato:
Impreso
Tabla de contenido:
Vol: 81 Num: 2 Par: 2 Año: 2010
Simulation of the TOFD technique using the finite element method
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G Baskaran, C Lakshmana Rao and K Balasubramaniam
Pág. 641
Revista:
INSIGHT
Formato:
Impreso
Tabla de contenido:
Vol: 49 Num: 11 Par: 0 Año: 2007
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