AVANZADA

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Robust Ohmic contact junctions between metallic tips and multiwalled carbon nanotubes for scanned probe microscopy

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Suenne Kim, Jeehoon Kim, Morgann Berg, and Alex de Lozanne

Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 79 Num: 10 Par: 0 Año: 2008

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