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Surface sensitivity in scanning transmission x-ray microspectroscopy using secondary electron detection

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C. Hub, S. Wenzel, J. Raabe, H. Ade, and R. H. Fink

Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 81 Num: 3 Par: 0 Año: 2010

PolLux: A new facility for soft x-ray spectromicroscopy at the Swiss Light Source

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J. Raabe, G. Tzvetkov, U. Flechsig, M. Böge, A. Jaggi, B. Sarafimov, M. G. C. Vernooij, T. Huthwelker, H. Ade, D. Kilcoyne, T. Tyliszczak, R. H. Fink, and C. Quitmann

Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 79 Num: 11 Par: 0 Año: 2008

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