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Circuit and technique for characterizing switching delay history effects in silicon-on-insulator logic gates

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Ketchen, M. B. Bhushan, M. Anderson, C. J. Pág. 768 - 771

Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 75 Num: 3 Par: 0 Año: 2004

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