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P. J. Paquet, T. Flagg, A. Appleby, J. Barr, L. Blankenship, D. Campton, M. Delarm, T. Evelyn, D. Fast, J. Gislason, P. Kline, D. Maynard, L. Mobrand, G. Nandor, P. Seidel & S. Smith     Pág. 547 - 561

 
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R. Geithner, R. Neubert, W. Vodel, P. Seidel, K. Knaack, S. Vilcins, K. Wittenburg, O. Kugeler, and J. Knobloch    
Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS    Formato: Impreso

 
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Daubert, K. Kautz, J. Seidel, H.-P. Heidrich, W. Dischler, J.-M.     Pág. 28 - 37
Revista: IEEE COMPUTER GRAPHICS AND APPLICATIONS    Formato: Impreso

 
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Buchanan, B R; Seidel Jr, G E; McCue, P M; Schenk, J L; Herickhoff, L A; Sq     Pág. 1333 - 1344
Revista: THERIOGENOLOGY    Formato: Impreso

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