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A highly sensitive scanning far-infrared microscope with quantum Hall detectors
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Ikushima, K. Sakuma, H. Komiyama, S.
Pág. 4209 - 4211
Revista:
REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS
Formato:
Impreso
Tabla de contenido:
Vol: 74 Num: 9 Par: 0 Año: 2003
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