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Richard C. Beeson, Jr.     Pág. 264 - 268
Revista: HORTSCIENCE    Formato: Impreso

 
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Dilma Daniela Silva andRichard C. Beeson, Jr.     Pág. 1677 - 1682
Revista: HORTSCIENCE    Formato: Impreso

 
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P. C. Beeson, P. C. Doraiswamy, A. M. Sadeghi, M. Di Luzio, M. D. Tomer, J. G. Arnold, C. S. T. Daughtry     Pág. 2011 - 2020
Revista: TRANSACTIONS OF THE ASABE    Formato: Impreso

 
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Richard C. Beeson, Jr     Pág. 359 - 364
Revista: HORTSCIENCE    Formato: Impreso

 
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Scheiber, S.M.; Beeson, R.C.; Chen, J.; Wang, Q.; Pearson, B.     Pág. 881 - 884
Revista: HORTSCIENCE    Formato: Impreso

 
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R.C. Beeson, Jr.     Pág. 140 - 148

 
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Scheiber, S M, Beeson Jr, Richard C     Pág. 235 - 238
Revista: HORTSCIENCE    Formato: Impreso

 
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Andrews, J. D. Beeson, S.     Pág. 213 - 219
Revista: IEEE TRANSACTIONS ON RELIABILITY    Formato: Impreso

 
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Beeson, R. C. Yeager, T. H.     Pág. 1373 - 1377
Revista: HORTSCIENCE    Formato: Impreso

 
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Beeson, S. Andrews, J. D.     Pág. 301 - 310
Revista: IEEE TRANSACTIONS ON RELIABILITY    Formato: Impreso

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