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Scaling analysis of Fe-implanted Ge surfaces using atomic force microscopy

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Venugopal, R. Sundaravel, B. Wilson, I. H. Xu, J. B. Pág. 241 - 248

Revista: MATERIALS CHARACTERIZATION Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 48 Num: 2-3 Par: 0 Año: 2002

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