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Sethian, J. D. Myers, M. C. Giuliani, J. L. Lehmberg, R. H. Kepple, P. C. Obenschain, S. P. Hegeler, F. Friedman, M. Wolford, M. F. Smilgys, R. V.     Pág. 1043 - 1056
Revista: PROCEEDINGS OF THE IEEE    Formato: Impreso

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