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Measuring the optical thermometry properties of La2O2S:Eu phosphor material

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L. J.B. Erasmus, J. J. Terblans, H. C. Swart Pág. 1 bladsy

No abstract available.

Revista: South African Journal of Science and Technology Formato: Electrónico

Tabla de contenido: Vol: 35 Num: 1 Par: 0 Año: 2016

Monte Carlo simulation of Pt-Al thin film diffusion

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RA Harris, JJ Terblans, HC Swart, E van der Lingen Pág. 187

Revista: JOURNAL OF THE SOUTH AFRICAN INSTITUTE OF MINING & METALLURGY Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 111 Num: 3 Par: 0 Año: 2011

Electronic sample-and-hold circuit to minimize artifacts during high-temperature Auger electron spectroscopy measurements

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Henson, R. P. Viljoen, E. C. Terblans, J. J. Plessis, J. d. Pág. 2481 - 2482

Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 74 Num: 4 Par: 0 Año: 2003

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