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The art of electrochemical etching for preparing tungsten probes with controllable tip profile and characteristic parameters

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Bing-Feng Ju, Yuan-Liu Chen, and Yaozheng Ge

Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 82 Num: 1 Par: 0 Año: 2011

Microscopic four-point atomic force microscope probe technique for local electrical conductivity measurement

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Yang Ju, Bing-Feng Ju, and Masumi Saka Pág. -

Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 76 Num: 8 Par: 0 Año: 2005

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