|
|
|
|
|
M J Madito, J J Terblans, H C Swart, C B Mtshali
Pág. 40 - 45
Edelgasioonverstuiwing gekombineer met Auger elektronspekstroskopie (AES) word algemeen gebruik vir die bepaling van die elementsamestelling van die diepteprofiele van die teikenmateriaal. Sulke diepteprofielsamestellings is algemeen gebruik v...
ver más
|
|
|
|
|