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Frequency Limitation in the Calibration of Microwave Test Fixtures

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Zhu, N. H. Qian, C. Wang, Y. L. Pun, E. Y. B. Chung, P.-S. Pág. 2000 - 2006

Revista: IEEE TRANSACTIONS ON MICROWAVE THEORY AND TECHNIQUES Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 51 Num: 9 Par: 0 Año: 2003

Authentication and Watermarking - Robust Template Matching for Affine Resistant Image Watermarks

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Pereira, S; Pun, T Pág. 1123 - 1129

Revista: IEEE TRANSACTIONS ON IMAGE PROCESSING Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 9 Num: 6 Par: 0 Año: 2000

Quasi-Static Analysis of Shielded Microstrip Transmission Lines with Thick Electrodes

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Zhu, N H; Qiu, W; Pun, E Y B; Chung, P S Pág. 288 - 290

Revista: IEEE TRANSACTIONS ON MICROWAVE THEORY AND TECHNIQUES Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 45 Num: 2 Par: 0 Año: 1997

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