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Detection and distribution analysis of organosilicon compounds in wood by means of SEM-EDX and micro-CT

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L. De Vetter, V. Cnudde, B. Masschaele, P.J.S. Jacobs and J. Van Acker Pág. 39 - 48

Revista: MATERIALS CHARACTERIZATION Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 56 Num: 1 Par: 0 Año: 2006

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