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Bad pixel management for industrial inspection

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Debasish Mishra, Clifford Bueno, G.K. Padmashree, Joe Portaz Pág. 975 - 980

Revista: MATERIALS EVALUATION Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 70 Num: 8 Par: 0 Año: 2012

A setup for probing collisions of highly charged ions with liquid droplets

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G. K. Padmashree, A. Roy, D. Kanjilal, G. Rodrigues, R. Ahuja, R. Somashekar, and C. P. Safvan Pág. 5094 - 5099

Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 75 Num: 12 Par: 0 Año: 2004

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