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Microwave measurements of the absolute London penetration depth in double-sided YBa~2Cu~3O~7~-~x thin films on sapphire

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Zaitsev, A. G. Schneider, R. Linker, G. Ratzel, F. Smithey, R. Schweiss, P. Geerk, J. Schwab, R. Heidinger, R. Pág. 335 - 344

Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 73 Num: 2 Par: 1 Año: 2002

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