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Data acquisition system for high speed atomic force microscopy

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Georg E. Fantner, Paul Hegarty, Johannes H. Kindt, Georg Schitter, Geraldo A. G. Cidade, and Paul K. Hansma Pág. -

Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 76 Num: 2 Par: 0 Año: 2005

High performance feedback for fast scanning atomic force microscopes

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Schitter, G.; Menold, P.; Knapp, H. F.; Allgo¨wer, F.; Stemmer, A. Pág. 3320 - 3327

Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 72 Num: 8 Par: 0 Año: 2001

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