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Estimation of Process Parameters to Determine the Optimum Diagnosis Interval for Control of Defective Items

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Dasgupta, Tirthankar; Mandal, Abhyuday Pág. 167 - 181

Revista: TECHNOMETRICS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 50 Num: 2 Par: 0 Año: 2008

SELC: Sequential Elimination of Level Combinations by Means of Modified Genetic Algorithms

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Mandal, Abhyuday; Jeff Wu, C.F.; Johnson, Kjell Pág. 273 - 283

Revista: TECHNOMETRICS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 48 Num: 2 Par: 0 Año: 2006

Pitting Corrosion: Comparison of Treatments With Extreme-Value¿Distributed Responses

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Fougères, A.L.; Holm, S.; Rootzén, H. Mandal, Abhyuday; Jeff Wu, C.F.; Johnson, Kjell Pág. 262 - 272

Revista: TECHNOMETRICS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 48 Num: 2 Par: 0 Año: 2006

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