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Knot undulator to generate linearly polarized photons with low on-axis power density

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S. Qiao, Dewei Ma, Donglai Feng, S. Marks, R. Schlueter, S. Prestemon, and Z. Hussain

Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 80 Num: 8 Par: 0 Año: 2009

Miniaturized impression creep testing of ball grid array solder balls attached to microelectronic packaging substrates

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D. Pan, R. A. Marks, I. Dutta, R. Mahajan, and S. G. Jadhav Pág. 5244 - 5252

Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 75 Num: 12 Par: 0 Año: 2004

Robust SOLT and Alternative Calibrations for Four-Sampler Vector Network Analyzers

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Jargon, J A; Marks, R B; Rytting, D K Pág. 2008 - 2013

Revista: IEEE TRANSACTIONS ON MICROWAVE THEORY AND TECHNIQUES Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 47 Num: 10 Par: 0 Año: 1999

Old Neural-Network Editors Don't Die, They Just Prune Their Hidden Nodes

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Marks II, R J Pág. 1221 - 1221

Revista: IEEE TRANSACTIONS ON NEURAL NETWORK Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 8 Num: 6 Par: 0 Año: 1997

TNN On Line

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Marks II, R J Pág. 193 - 193

Revista: IEEE TRANSACTIONS ON NEURAL NETWORK Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 8 Num: 2 Par: 0 Año: 1997

Everyday Applications of Neural Networks

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Dillon, T; Arabshahi, P; Marks II, R J Pág. 825 - 826

Revista: IEEE TRANSACTIONS ON NEURAL NETWORK Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 8 Num: 4 Par: 0 Año: 1997

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