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Absolute charge calibration of scintillating screens for relativistic electron detection

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A. Buck, K. Zeil, A. Popp, K. Schmid, A. Jochmann, S. D. Kraft, B. Hidding, T. Kudyakov, C. M. S. Sears, L. Veisz, S. Karsch, J. Pawelke, R. Sauerbrey, T. Cowan, F. Krausz, et al

Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 81 Num: 3 Par: 0 Año: 2010

A magneto-optic probe for magnetic fluctuation measurements

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W. S. Przybysz, J. Ellis, S. Chakraborty Thakur, A. Hansen, R. A. Hardin, S. Sears, and E. E. Scime

Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 80 Num: 10 Par: 0 Año: 2009

Extended Memory Management (XMM): Lessons Learned

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Black, D L; Milojicic, D S; Dean, R W; Dominijanni, M; Langerman, A; Sears, Pág. 1011 - 1011

Revista: SOFTWARE, PRACTICE & EXPERIENCE Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 28 Num: 9 Par: 0 Año: 1998

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