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Use of biaxially oriented polypropylene film for evaluating and cleaning contaminated atomic force microscopy probe tips: An application to blind tip reconstruction

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Nie, H.-Y. Walzak, M. J. McIntyre, N. S. Pág. 3831 - 3836

Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 73 Num: 11 Par: 0 Año: 2002

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