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Effect of electron cyclotron resonance ion source frequency tuning on ion beam intensity and quality at Department of Physics, University of Jyväskylä

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V. Toivanen, H. Koivisto, O. Steczkiewicz, L. Celona, O. Tarvainen, T. Ropponen, S. Gammino, D. Mascali, and G. Ciavola Pág. 02A319

Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 81 Num: 2 Par: 2 Año: 2010

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