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Quantitative measurement of piezoelectric coefficient of thin film using a scanning evanescent microwave microscope

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Zhenli Zhao, Zhenlin Luo, Chihui Liu, Wenbin Wu, Chen Gao, and Yalin Lu

Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 79 Num: 6 Par: 0 Año: 2008

Deformation behavior and microstructural evolution during the semi-solid compression of Al?4Cu?Mg alloy;

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Yalin Lu, Miaoquan Li, Weichao Huang and Haitao Jiang Pág. 423 - 430

Revista: MATERIALS CHARACTERIZATION Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 54 Num: 4-5 Par: 0 Año: 2005

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