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Double conical crystal x-ray spectrometer for high resolution ultrafast x-ray absorption near-edge spectroscopy of Al?K edge

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A. Levy, F. Dorchies, C. Fourment, M. Harmand, S. Hulin, J. J. Santos, D. Descamps, S. Petit, and R. Bouillaud

Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 81 Num: 6 Par: 0 Año: 2010

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