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Short-time piezoelectric measurements in ferroelectric thin films using a double-beam laser interferometer

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Gerber, P. Roelofs, A. Lohse, O. Kugeler, C. Tiedke, S. Bottger, U. Waser, R. Pág. 2613 - 2615

Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 74 Num: 4 Par: 0 Año: 2003

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