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A new procedure for the quantitative analysis of extended x-ray absorption fine structure data in total reflection geometry

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F. Benzi, I. Davoli, M. Rovezzi, and F. d'Acapito

Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 79 Num: 10 Par: 0 Año: 2008

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