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A Simple Four-Port Parasitic Deembedding Methodology for High-Frequency Scattering Parameter and Noise Characterization of SiGe HBTs

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Liang, Q. Cressler, J. D. Niu, G. Lu, Y. Freeman, G. Ahlgren, D. C. Malladi, R. M. Newton, K. Harame, D. L. Pág. 2165 - 2174

Revista: IEEE TRANSACTIONS ON MICROWAVE THEORY AND TECHNIQUES Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 51 Num: 11 Par: 0 Año: 2003

The Applicability of Integrated Layer Processing

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Ahlgren, B; Björkman, M; Gunningberg, P G Pág. 317 - 331

Revista: IEEE JOURNAL OF SELECTED AREAS IN COMMUNICATIONS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 16 Num: 3 Par: 0 Año: 1998

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