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Determination of thickness, density and roughness of Co¿Ni¿Al single and multiple layer films deposited by high-vacuum e-beam evaporation on different substrates

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O. Baake, R.M. Öksüzoglu, S. Flege, P.S. Hoffmann, S. Gottschalk, H. Fuess and H.M. Ortner Pág. 12 - 16

Revista: MATERIALS CHARACTERIZATION Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 57 Num: 1 Par: Año: 2006

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