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Straightforward and Accurate Nonlinear Device Model Parameter-Estimation Method Based on Vectorial Large-Signal Measurements

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Schreurs, D. M. M.-P. Verspecht, J. Vandenberghe, S. Vandamme, E. Pág. 2315 - 2319

Revista: IEEE TRANSACTIONS ON MICROWAVE THEORY AND TECHNIQUES Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 50 Num: 10 Par: 0 Año: 2002

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